OLYMPUS BTXProfiler - OLYMPUSX射线衍射仪BTXProfiler

品牌：OLYMPUS 型号：BTXProfiler OLYMPUS BTXProfiler - OLYMPUSX射线衍射仪BTXProfiler 产品介绍用XRD和XRF组合技术对材料进行全面分析利用2维传输XRD技术进行矿物学-结晶相分析使用能量色散XRF技术进行元素分析数据与结果的整合天衣无缝节省了操作成本、空间和时间 BTXProfiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空航天局成功的火星科学实验室项目中···

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产品介绍

品牌：OLYMPUS

型号：BTXProfiler

OLYMPUS BTXProfiler - OLYMPUSX射线衍射仪BTXProfiler

OLYMPUS BTXProfiler - OLYMPUSX射线衍射仪BTXProfiler 产品介绍

用XRD和XRF组合技术对材料进行全面分析

利用2维传输XRD技术进行矿物学-结晶相分析

使用能量色散XRF技术进行元素分析

数据与结果的整合天衣无缝

节省了操作成本、空间和时间

BTXProfiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空航天局成功的火星科学实验室项目中的“好奇”号漫游者曾经使用过的技术。它所采用的另一种技术是Olympus的X射线分析仪所使用的广受赞誉、优质实用的XRF技术。

BTXProfiler的技术规格用于单个样品分析的BTXProfiler用于多个样品分析的BTXProfilerXRD的技术规格XRD范围5-55度2θ5-55度2θXRD分辨率0.25度2θ0.25度2θXRD探测器类型1024×256像素2维Peltier致冷CCD1024×256像素2维Peltier致冷CCD样件颗粒大小<150μm碾压粉末（100目筛）<150μm碾压粉末（100目筛）其它样品类型凝胶、润滑脂凝胶、润滑脂样品量~0.5g~0.5gX射线目标材料铜（钴为可选项）铜（钴为可选项）X射线管电压30kV30kVX射线管最大电流330μA330μAXRF的技术规格XRF探测器大区域硅漂移探测器大区域硅漂移探测器X射线目标材料铑铑X射线管几何形状发射目标端窗口发射目标端窗口X射线管电压40kV40kVX射线管最大电流200μA200μA轻元素分析氦冲，大约0.25l/min氦冲，大约0.25l/min主要过滤器可配置7个位置可配置7个位置样品量~2g~2g工作温度-10°C～35°C-10°C～35°C重量23.13kg/单样品仪器32.66kg/带20个位置自动进样机的仪器外型尺寸49.3cm×39.7cm×34.4cm/单样品仪器67.4cm×39.7cm×34.4cm/带20个位置自动进样机的仪器BTXProfiler的技术规格XRD分辨率0.25o 2?FWHMXRD范围5-55o 2?探测器类型1024x256像素；2维Peltier致冷CCDXRF能量分辨率200eV，5.9keVXRF能量范围3到25keV样件颗粒大小<150μm碾压矿物质（100目筛，150μm）样品量~15mgX射线目标材料钴或铜（钴为可选项）X射线管电压30kVX射线管功率10W数据存储40Gb-坚固耐用的内部硬盘驱动器无线连接802.11b/g，从网络浏览器进行遥控工作温度-10oC到35oC重量12.5kg