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SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV

SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV

品牌：SEMILAB 型号：LE-103PV SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV产品介绍用于硅太阳能电池的激光椭偏仪紧凑型创新设备，旨在测量沉积在纹理硅（单硅和多硅）衬底上的抗反射涂层的厚度和光学常数。可以轻松实现优化的入射角（12-90°），以获得沉积在多晶结构晶圆上的薄膜的大信号。金字塔结构可以定向以获得正确的测量值，同时将样品牢固地保持在适当的位置。 SEMILAB激光椭偏仪LE-103P···

* 除了特别标注有"库存现货"的产品以外,其他产品均无现货,如若采购,请点击立即询价,或来电咨询:021-52102938/68/78 !

产品介绍

品牌：SEMILAB

型号：LE-103PV

SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV

SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV产品介绍

用于硅太阳能电池的激光椭偏仪紧凑型创新设备，旨在测量沉积在纹理硅（单硅和多硅）衬底上的抗反射涂层的厚度和光学常数。可以轻松实现优化的入射角（12-90°），以获得沉积在多晶结构晶圆上的薄膜的大信号。金字塔结构可以定向以获得正确的测量值，同时将样品牢固地保持在适当的位置。

SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV性能特点

确定减反射涂层的薄膜厚度和光学常数（折射率和消光系数）用于稳定性和自动校准的集成光学元件微点聚焦光学元件，用于良好信号收集。特别改装的样品架，适用于 156×156 mm 的样品池尺寸。在线集成，实现快速过程控制。符合智能软件标准。样品对准：用于手动倾斜和高度调整的大信号检测。

SEMILAB激光椭偏仪LE-103PV技术参数

测量波长：632.8 nm（氦-Ne激光）样品台：兼容 156 × 156 mm 测角仪：55° - 90° 手动控制

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