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CDE 的全称为 Creative Design Engineering, Inc.,总部设在美国加州 Cupertino,成立于 1993 年。CDE 的产品线围绕 ResMap 晶圆电阻率 / 薄膜量测系统展开,覆盖 2” 到 300 mm 晶圆,量测范围 1 mΩ/□ 到 10 MΩ/□,精度 0.5%,静态重复性 0.02%。不同型号按上片方式、晶圆尺寸与自动化程度划分,分别对应半导体制造 ...
CDE Creative Design Engineering Inc 是一家总部位于美国加州库比蒂诺的半导体计量设备公司,核心产品是用于晶圆制造的四探针电阻率测试系统(ResMap系列),在半导体和光伏行业应用广泛。CDE 的产品线以 ResMap 系列四探针测试仪 为主,用于测量晶圆、薄膜和导电材料的方块电阻与电阻率。主要产品ResMap ...